產(chǎn)品展示
韓國(guó)XRF-2000X射線測(cè)厚儀精度的詳細(xì)資料:
韓國(guó)XRF-2000X射線測(cè)厚儀精度
韓國(guó)XRF-2000X射線測(cè)厚儀精度
*層:±5%以內(nèi)
第二層:±8%以內(nèi)
第三層:±15%以內(nèi)
韓國(guó)XRF-2000X射線測(cè)厚儀測(cè)試范圍
Au 0.03-6um
Pd 0.03-6um
Ni 0.5-30um
Ni-P 0.5-30um
Sn 0.3-50um
Ag 0.1-50um
Cr 0.5-30um
Zn 0.5-30um
ZnNi 0.5-30um
SnCu 0.5-30um
韓國(guó)XRF-2000測(cè)厚儀配置
全自動(dòng)臺(tái)面
自動(dòng)雷射對(duì)焦
多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品)
測(cè)量樣品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以內(nèi)四種規(guī)格可選
測(cè)量樣品長(zhǎng)寬均為55cm
可測(cè)試單層,雙層,多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測(cè)量時(shí)間:10-30秒
韓國(guó)XRF-2000X射線測(cè)厚儀精度:顯示小數(shù)點(diǎn)后三位
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