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產(chǎn)品名稱：韓國XRF-2000測厚儀精度及檢測范圍
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品報價：
產(chǎn)品特點：韓國XRF-2000測厚儀精度及檢測范圍測量電子電鍍,化學電鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...可測單層,雙層,多層,合金鍍層
韓國XRF-2000測厚儀精度及檢測范圍的詳細資料：
韓國XRF-2000測厚儀精度及檢測范圍
Au 0.02-6um
Pd 0.03-4um
Ni 0.05-20um
Ni-P 0.05-20um
Sn 0.05-80um
Ag 0.03-20um
Cr 0.05-20um
Zn 0.05-20um
ZnNi 0.05-20um
SnCu 0.05-20um
韓國XRF-2000X射線鍍層測厚儀
檢測電子電鍍,化學電鍍層厚度,
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,
設備功能描述
兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)
使用X熒光射線非接觸非破壞快速測量膜厚層
各種樣品單層至多層（5層），合金膜層均可測量
定點自動定位分析
光徑對準全自動
影像重疊功能
自動顯示測量參數(shù)
彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)
多重統(tǒng)計顯示視窗與報告編輯應用2D/3D，任意位置測量控制Y軸全自動控制雷射對焦與自動定位系統(tǒng)
多種機型選擇X-ray運行待命（睡眠）控制溫控穩(wěn)定延長校準時效全進口美日系零件價格優(yōu)勢及快速的服務時效
Micro XRF-2000 韓國先鋒鍍層測厚儀系列
測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等
兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)
使用X熒光射線可作非接觸非破壞快速分析膜層
擁有多種濾波器選擇
各種樣品單層至多層（5層），合金膜層與溶液均可測量
定點自動定位分析
光徑對準全自動
影像重疊功能
自動顯示測量參數(shù)
彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)
單一鍍層測量 | Au/Ni , Zn/Fe , Cr/Al |
針對zui上層無法量測之元素 | Al/Fe |
zui上層的厚度極薄 | Au小于0.25um |
雙層鍍層測量 | Au/Ni/Cu , Ag/Ni/Cu |
多層測量(zui多5層) | Au/Ni/Cu/Epoxy |
SnXx合金 | SnPb/Cu , SnBi/Cu |
藥水分析 | -- |
單層合金測量 | SnPb/Cu , ZnNi/Cu |
雙層合金測量 | SnPb/Ni/Cu |
多層合金測量(zui多五層) | SnPb/Ni/Cu/Fe |
首層薄及第二層厚測量 |
| 如果你對韓國XRF-2000測厚儀精度及檢測范圍感興趣，想了解更詳細的產(chǎn)品信息，填寫下表直接與廠家聯(lián)系： |
